泰琛测试技术(上海)有限公司
  • 网站首页

  • 关于我们

  • 服务展示

  • 设备展示

  • 新闻资讯

  • CT学院

  • 工程案例

  • 服务支持

  • 解决方案

  • 人才招聘

  • 联系我们

  • 失效分析

    通过对失效样品进行X射线扫描,找到内部结构的损坏之处,避免二次损坏样品,目前工业CT扫描进行失效分析已经成为失效分析的发展方向。

    NO CONTENTS